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- 2023-07-01 发布于四川
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本发明公开了一种兼具响应度和响应速度的InGaN可见光探测器外延结构,生长全过程是在MOCVD设备中进行的,外延结构包括衬底、依次形成于衬底之上的缓冲层、n型GaN层、V形坑开启层、InGaN/GaN量子阱层、p型AlxGa1‑xN层和p型GaN层;其中,在V形坑开启层沿着位错线开启V形坑,V形坑包含平台和侧壁,InGaN/GaN量子阱层在V形坑侧壁的In组分小于平台。InGaN量子阱层在V形坑侧壁的厚度相比平台更薄,可以缩短光生载流子的传输距离,并且光生载流子在V形坑的有源区中更容易分离,可以
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116364800 A
(43)申请公布日 2023.06.30
(21)申请号 202310083226.1
(22)申请日 2023.02.08
(71)申请人 南昌大学
地址 330031
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