一种提高芯片验证效率的方法、系统、存储介质及计算设备.pdfVIP

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2023-07-01 发布于四川
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一种提高芯片验证效率的方法、系统、存储介质及计算设备.pdf

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本发明公开了一种提高芯片验证效率的方法，其包括：部署待验证芯片程序；为每一子系统编制对应的测试用例组；选择所述芯片中的本次待验证子系统，将剩余子系统采用对应的黑盒模块替换，形成本次待测试的芯片程序；将本次待测试的芯片程序以及各测试用例组程序进行编译，形成验证测试环境；根据所述验证测试环境进行仿真处理，运行待验证子系统所对应的测试用例组，并获得仿真结果。本发明还提供了相应的系统、存储介质以及计算设备。实施本发明，可以降低芯片验证时的系统编译和仿真的时间，并减少相应的处理资源，提高了芯片验证的效率。

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116362198 A (43)申请公布日 2023.06.30 (21)申请号 202310304977.1 (22)申请日 2023.03.21 (71)申请人深圳云豹智能有限