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本发明公开了一种检测TP芯片噪声的方法，通过空扫通道的数据来检测噪声，当TP芯片是通过CA采集通道上的电压差，利用ADC将压差转换成数字数据；当一帧TP芯片扫描开始后，CA与空扫通道是处于断开状态的，若系统上没有噪声时，CA输出VREF恒电压，ADC转换出的数字码值对应为VREF电压值；若系统上有噪声，CA受到到干扰，输出的电压偏离VREF电压值，ADC转换出的数字码值有偏差。本发明可以实时检测TP工作的频点是否有噪声，且可以同时检测多个其它频点的噪声；若认为当前频点噪声过大，进行跳频操作，通过
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113760129 A
(43)申请公布日 2021.12.07
(21)申请号 202111037718.4
(22)申请日 2021.09.06
(71)申请人 合肥松豪电子科技有限公司
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