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本发明公开了一种提高天线方向图零深位置测试精度的方法，属于天线测试技术领域，根据零深附近方向图呈现近似对称分布的特点，将广义互相关时延估计的方法应用到零深估计，提高零深位置测试精度；具体包括选取有效数据段，对数据段进行判断并处理，选取零深估计粗值点，利用广义互相关时延估计计算互功率谱，补零操作，以及进行傅里叶反变换等计算零深的位置。本发明采用补零的方法，提高零深位置的角度分辨率；通过该计算方法对线性值取倒数，提高与零深距离近的值在时延估计中所占的比重，进一步提高时延估计精度。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113777412 A
(43)申请公布日 2021.12.10
(21)申请号 202110916124.4
(22)申请日 2021.08.11
(71)申请人 中电科思仪科技股份有限公司
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