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- 2023-07-05 发布于四川
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本发明提供一种芯片修复方法、系统及控制终端,包括以下步骤:当芯片上电后,获取所述芯片的各个电源域的存储器的测试结果;对于测试结果为存在物理坏区的存储器,发送修复请求至主修复电路,以使所述主修复电路基于所述修复请求控制所述存储器对应的子修复电路完成初始化和存储器修复;对于测试结果为不存在物理坏区的存储器,生成并发送初始化脉冲至所述存储器对应的子修复电路,以使所述子修复电路完成初始化。本发明的芯片修复方法、系统及控制终端针对存在错误和不存在错误的存储器分别进行处理,有效减少了芯片修复的时间,加快了芯
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113806144 A
(43)申请公布日 2021.12.17
(21)申请号 202111050116.2
(22)申请日 2021.09.08
(71)申请人 瑞芯微电子股份有限公司
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