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一种集成电路耐高温测试装置及其测试方法.pdfVIP

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  • 2023-07-05 发布于四川
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一种集成电路耐高温测试装置及其测试方法.pdf

    本发明属于芯片技术领域，具体的说是一种集成电路耐高温测试装置及其测试方法，包括加热箱、顶盖和测试台；测试台上开设有放置槽，放置槽底部开设有一组与集成电路板的针脚对的卡槽，卡槽内设有探针；加热箱靠近顶部开口位置转动连接有一对带轮；两个带轮之间套设有同步带，同步带上通过支架固连有吸盘；同步带顶部的加热箱内壁固连有放置座，放置座内开设有与集成电路板配合的锥形通槽；通过将待检测的集成电路板反面朝上放置在放置座内的锥形通槽中，使集成电路板自由下落后水平掉落在吸盘上，之后被吸盘吸住后通过同步带移动并翻转姿态

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113805038 A (43)申请公布日 2021.12.17 (21)申请号 202111032785.7 (22)申请日 2021.09.03 (71)申请人 深圳群芯微电子有限责任公司

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