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一种OLED面板缺陷预测方法.pdfVIP

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  • 2023-07-06 发布于四川
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一种OLED面板缺陷预测方法.pdf

    本发明涉及显示OLED面板缺陷预测技术领域，目的在于公开一种OLED面板微缺陷预测方法，所述预测方法包括以下步骤：(1)通过双三次插值的方法来放大未知缺陷信息；(2)通过mosaic方法来扩展数据集，以提高模型对少样本的预测能力；(3)通过残差网络、池化层和上采样层构造低分辨率图像生成器，由残差网络和全连接层构成判别器；(4)由若干从残差模块进行跳跃的连接构成高分辨率图像生成器，由最大池化层和残差网络构造高分辨率图像判别器。本发明通过放大未知缺陷信息、扩展测试数据集，可以在检测之前有效地对样本所

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113838024 A (43)申请公布日 2021.12.24 (21)申请号 202111106032.6 (22)申请日 2021.09.22 (71)申请人 哈尔滨工业大学 地址

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