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本发明公开了一种痕量元素X射线荧光测定方法、装置、电子设备及介质，所述方法包括：获取光谱仪采集标准物质获得的荧光光谱数据集，所述光谱仪的X光管与标准物质之间设置有一薄片，所述薄片为能抑制堆积脉冲的金属片；利用背景散射内标法对所述荧光光谱数据集进行处理；根据处理后的荧光光谱数据集与对应的标准物质痕量元素含量，建立基于标准物质的痕量元素的检测校准模型；将待测样品的荧光光谱数据输入到所述检测校准模型中，得到所述样品中所述痕量元素的含量。
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113820342 A
(43)申请公布日 2021.12.21
(21)申请号 202111054863.3
(22)申请日 2021.09.09
(71)申请人 台州高视通智能科技有限公司
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