写接口存储质量测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdfVIP

  • 2
  • 0
  • 约1.58万字
  • 约 14页
  • 2023-07-06 发布于四川
  • 举报

写接口存储质量测试方法、系统、电子设备及存储介质.pdf

本公开提供了写接口存储质量测试方法、系统、电子设备及存储介质,本公开涉及计算机技术领域,尤其涉及写接口的存储质量测试技术领域。具体实现方案为:通过存储模型连接被测试接口的数据库;执行被测试写接口,并配置存储快照;从存储快照列表中选取存储快照用例,将被测试写接口测试过程中获取的实时存储快照与存储快照用例进行比对得到比对结果,并生成第一类应用程序接口以及第二类应用程序接口;调用第一类应用程序接口获取比对结果;调用第二类应用程序接口对数据库内写入的存储数据进行清理。本公开的测试方法通用性更强,适配不同

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113836016 A (43)申请公布日 2021.12.24 (21)申请号 202111116141.6 (22)申请日 2021.09.23 (71)申请人 北京百度网讯科技有限公司

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档