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2023-07-06 发布于四川
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一种针对非接触智能卡的干扰测试方法.pdf

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本发明提出的一种针对非接触智能卡的干扰测试方法，由干扰器产生直流叠加干扰毛刺的波形，加载到直流叠加干扰输入端上，直流叠加干扰输入端再与桥式整流电路的直流输出端连接。在桥式整流电路的交流输入端，外接一个用于输出非接干扰的干扰天线，干扰天线放在非接触智能卡和非接读卡器之间。当非接触智能卡与非接读卡器通信时，启动干扰器，干扰器产生的直流叠加干扰毛刺的波形通过桥式整流电路耦合到非接触智能卡与非接读卡器之间的干扰天线上，干扰天线的电磁干扰信号再干扰非接触智能卡与读卡器之间的通信。

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113834983 A (43)申请公布日 2021.12.24 (21)申请号 202110988522.7 (22)申请日 2021.08.26 (71)申请人北京中电华大电子设计有限责任公

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