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一种贴片电阻的保护膜外观缺陷检测方法.pdfVIP

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  • 2023-07-07 发布于四川
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一种贴片电阻的保护膜外观缺陷检测方法.pdf

    本发明公开了一种贴片电阻的保护膜外观缺陷检测方法，其方法步骤为：将保护膜外观进行图像采集；建立保护膜外观缺陷光学仿真模型；利用图像处理算法对保护膜外观的图像进行处理；进行图像特征提取；检测结果分析。本发明有益效果：本发明利用摄像头对保护膜进行图像采集，建立光学仿真模型，这样更清楚更全面的展示膜缺陷问题，利用空域算法可以对保护膜外观缺陷的快速精确自动提取，背景消除算法可以消除余弦结构光背景，避免余弦结构光背景将较小缺陷点进行掩盖，进而提高了缺陷检测的全面性和准确性；明检测速度快、检测精度高、节省了

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 113850809 A (43)申请公布日 2021.12.28 (21)申请号 202111453253.0 G06T 5/20 (2006.01)

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