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本发明公开了一种集成电路测试仪,其结构包括机体、控制面板、连接口,由于在粉尘较多厂房内工作,外界的粉尘随着空气通入到开口内部,并且残留在导电杆的外壁,通过在开口内部设有阻挡机构,通过阻挡板对外界的粉尘阻挡,能够减少粉尘通入到开口内部,并堆积在导电杆外壁,能够减小电源与导电杆之间的电阻,加快电流通过导电杆输送的速度,由于粉尘残留在阻挡板的右侧面,粉尘随着阻挡板进入到支撑架内底部,通过在支撑架内部设有推板,通过推板将阻挡板右侧面的粉尘清除,并且通过支撑架内部的活动块形变产生气流,气流将支撑架内部的粉
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113848450 A
(43)申请公布日 2021.12.28
(21)申请号 202111046150.2
(22)申请日 2021.09.07
(71)申请人 康丽云
地址 312
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