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基于单一像面光学系统引入CCD不平度误差模型方法,涉及光学系统集成仿真技术领域。为解决现有技术难以满足对CCD拼接误差的计算要求,且建模过程较为复杂,容易引起操作失误等问题,本发明包括对CCD位置不平度测试与面形不平度测试;在单一像面引入拼接式CCD不平度误差,避免了依照CCD拼接数量建立对应光学系统,降低了该误差建模的复杂成度,且有效提升全链路像质计算效率。本发明将拼接式CCD不平度误差加载至链路仿真系统中,可分析该项误差引起的像质退化程度,根据退化结果改良设计指标,提升大口径光学系统在轨成像
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 113868865 A
(43)申请公布日 2021.12.31
(21)申请号 202111147559.3
(22)申请日 2021.09.29
(71)申请人 中国科学院长春光学精密机械与物
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