X射线知识点总结.pdfVIP

谋事在人，成事在天！——《增广贤文》 吸收限λk：把物质的原子内部电子击出（原轨道）所需要的入射光最长波长。 短波限λ ：在对 X 射线管施加各种管压下的连续谱都存在一个最短的波长值λ0 。 0 K α：电子由L→K 跃迁所引起的 K 系辐射。 K β：电子由M→K 跃迁所引起的 K 系辐射。 光电效应：入射特征 X 射线和物质内层(K 层)作用后将其击出，之后高能轨道电子跃迁，随 之释放出二次特征 X 射线的现象。被击出的电子叫光电子。 荧光 X 射线（二次特征 X 射线）：由X 射线激发产生的特征 X 射线。 俄歇效应：入射 X 射线激发原子产生荧光 X 射线。荧光 X 射线又由其能量传递给高能轨道 的电子，将其击出的现象。 光电子：光电效应击出的电子。 俄歇电子：电子束轰击样品表面电子跃迁产生具有特征力学的粒子。 干涉面：面间距为 1/n 的实际上存在或不存在的假象晶面（HKL ）。 干涉指数：干涉面所对应的面指数。 衍射角：2 θ，x 射线发生衍射后改变方向的角度。 多重性因子：晶面间距相同，晶面上原子排列规律相同的晶面， 结构因子：定量表征原子排布以及原子种类的衍射强度影响规律的参数。 系统消光：因原子单晶体中位置不同货原子种类不同而引起的某些方向上的衍射线消失的现 象。 θ—2 θ连动：机械连动时样品样品台转过 θ角时计数管转 2 θ角，使 X 射线在板状试样表 面的入射角经常等于反射角。 连续扫描测量法：将计数器连接到计数率仪上，计数器由 2 θ接近 0° （约 5°~6°）处开 始向 2 θ角增大的方向扫描。 阶梯扫描测量法：将计数器转到一定的 2 θ角位置固定不动，通过定标器，采取定时计数法 或定数计时法，测定计数率的数据。 物相分析：根据 X 射线在晶体上产生的带有晶体特征的衍射花样，分析衍射线条的位置经过 一定的处理确定物相是什么；根据衍射线条的位置和强度可以确定物相有多少。 0°—45°法：使用应力仪检测，改变选取的应变方向与试样表面法线之间的夹角Ψ，在试 2 样中Ψ常选取0°，15°，30°,45°，测量衍射角 2 θ，绘制 2 θ-sin Ψ的关系图，由直线 斜率得出σФ，这就是通称的 sin2Ψ。 消像散器：电磁透镜在制造过程中已存在固有的相散，，可以通过引入一个强度和方位都可 以调节的矫正磁场来进行补偿，这个矫正磁场的装置就是消像散器。 景深：当像平面固定时，维持清晰物象前提下允许物平面沿透镜主轴移动的最大距离； 焦长：透镜像平面允许的轴向偏差即为透镜的焦长。 电子枪：透射电子显微镜的电子源，由发夹形钨丝阴极、栅极帽和阳极组成。 物镜光阑：又称衬度光阑，常被安放在物镜后焦面上。 选区光阑：又称场限光阑或视场光阑，使电子束只能通过光阑孔限定的微区。 明场成像：把这种让透射束通过物镜光阑而把衍射束挡掉得到的图像衬度的方法叫明场成 像。 暗场成像：把透射束挡掉，让衍射束通过物镜光阑得到的图像衬度丝袜方法，叫暗场像。 透射电镜分辨率决定于物镜，最优可达到 0.1nm。 质厚衬度：由于样品不同区域厚度或原子序数 （密度）存在差异，使得透射过样品并辐照到 底片上的电子束存在差异而产生的衬度。 衍射衬度：由于样品中不同位向的晶体的衍射条件 （位向）不同而造成的衬度差别叫衍射衬 度。 非淡泊无以明志，非宁静无以致远。——诸葛亮 志不强者智不达，言不信者行不果。——墨翟 投影： 在中间复型上进行碳复型时，为了增加衬度可在倾斜 15~45 的方向上喷镀一层重金 属，此过程称为投影。 复型：用复型材料对样品表面进行复制。