一种用于双界面智能卡芯片开发测试的转接装置.pdfVIP

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2023-07-11 发布于四川
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一种用于双界面智能卡芯片开发测试的转接装置.pdf

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一种用于双界面智能卡芯片开发测试的转接装置，包括转接板、在所述转接板上分别设置有并行设计的可调天线线圈部与接触式测试引脚部；所述可调天线线圈部包括：符合ISO/IEC7816协议的接触式通讯接口、接触式pad引出引脚、实施ISO/IEC14443非接触式通讯协议所规定的耦合天线和用于调整耦合天线圈数的配置引脚。本实用新型将可调天线线圈部与接触式测试引脚部并行集成设计：在进行接触式智能卡芯片测试开发时，通过接触式测试引脚部进行数据交互；在进行非接触式智能卡芯片测试开发时，通过耦合天线金属线圈进

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 214151703 U (45)授权公告日 2021.09.07 (21)申请号 202120385599.0 (ESM)同样的发明创造已同日申请发明专利 (22)申请日 2021