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本发明涉及电性能的测试领域，尤其涉及一种电阻片冲击实验系统及方法。一种电阻片冲击实验方法，将被测电阻片与电感、电容连接成RLC电路，通过RLC电路中电容的放电冲击被测电阻片，获取被测电阻片在放电冲击过程中两端的电流电压信息。将被测电阻片与电感、电容连接成RLC电路，进而对电路中的电容充电放电，在实验前，首先进行充电，电容在充能后电荷在短时间内被释放，模拟在合闸时电阻受到的电流冲击，由于被测电阻片单独设置在电路中，因此能方便的测量电阻片上的电压电流信息，进而解决现有技术中无法对电阻片侧面绝缘性能进
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116430189 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310009292.4 (51)Int.Cl .
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