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本发明公开了一种基于K‑means聚类的快速高信噪比的CEST量化参数图计算方法，方法包括：根据CEST‑MRI图像的像素个数和标准差设置聚类终止条件；对待聚类目标进行K‑means聚类，并分别对每个类的平均Z谱进行参数拟合；对于不满足条件的类，将该类作为待聚类目标，并将该类的平均Z谱的拟合参数作为下一次聚类后拟合的初值，转至聚类步骤；对于满足的类，将该类的拟合值作为该类内所有像素的量化信号输出，并在所有类均满足所述聚类终止条件时，根据所有类的拟合值输出基于类拟合的量化图。该方法可提高CEST‑
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116433597 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310219151.5
(22)申请日 2023.03.08
(71)申请人 清华大学
地址 100084
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