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本发明涉及多通道TR组件测试技术领域，具体涉及一种多通道TR组件测试自动校准方法及系统，通过构建多通道开关矩阵，并根据测试需求设定每一个通道的校准频率，根据校准频率测量对应通道的插损值，得到与测试通道频率范围对应的校准文件，使得在对校准仪器校准时能够根据校准仪器的测试信息匹配对应的插损值，完成对输入信号和输出信号的差值补偿，从而确保在测试时降低测试难度，避免人工手动补偿，节省测试时间，提高测试效率，同时能够实现多通道开关矩阵中多个测试通道插损值的同时补偿，进一步提高效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116436538 A
(43)申请公布日 2023.07.14
(21)申请号 202310684986.8
(22)申请日 2023.06.12
(71)申请人 西安弘捷电子技术有限公司
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