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本实用新型公开了一种芯片测试装置，包括底座，底座的顶端固定安装有光学分析仪本体，光学分析仪本体的顶端边侧固定安装有箱体，箱体的顶端固定安装有顶板，光学分析仪本体的顶端中部固定安装有减速电机，减速电机的输出轴的一端固定安装有螺杆，螺杆的一端与通过嵌设有轴承的顶板穿插连接，螺杆的外部螺纹连接有套环，套环的一侧固定安装有固定块，固定块的顶端开设有放置槽，本实用新型一种芯片测试装置通过在减速电机的输出端固定安装的螺杆，可以将固定块稳定上升或者下降，可以方便使用者将芯片放置在放置槽内，同时会减少芯片测试前
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 214224912 U
(45)授权公告日 2021.09.17
(21)申请号 202022803983.6
(22)申请日 2020.11.29
(73)专利权人 深圳市利信通科技有限公司
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