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四工大数电实验报告 1TTL 集成逻辑门参数测试
实验一 TTL 集成逻辑门参数测试
学号：2021300784 姓名：张腾 班级
一、 实验目的：
〔1〕 掌握各种 TTL I J电路的逻借功能。
〔2〕 掌握验证逻辑门电路功能的方法。
〔3〕 掌握空闲输入端的处理方法。
二、 实验设备：
数字电路实验箱，74LS00,双踪示波器
三、 实验原理：
门电路是数字逻辑电路的根本组成单元，门电路按逻辑功能可分为与门、或门、非门、与非
门、或非门、异或门等。按电路的结构组成不同，可分为分立元件门电路、CMOS 集 成门电路、
TTL 集成门电路等。集成门电路通常封装在集成芯片内，一般有双列直插和表 而贴装两种封装形
式。实验中常用的是双列直插式。每个集成电路都有自己的代号，与代号对应的名称形象地说明
了集成电路的用途。
四、 实验内容：
1、 在 74LS00 芯片中选一个与非门，输入端通过逻借电路开关接髙、低电平，输岀端接 示
波器。输入不同信号组合，在表 1」中记录相应结果。
2、用与非门实现与逻辑、或逻辑和异或逻辑。其中 A 为脉冲输入，B 为数字开关输入。 F 输
出接示波器。
① F=AB ② F=A+B ③ F=AOB
五、 实验结果：
1、 表 1.1
输入 输出
A B Y
0 0 1
0 1 1
1 〔〕 1
1 1 0
2、① F=AB=AB 1
四工大数电实验报告1TTL集成逻辑门参数测试
V£C
5V
ABF
B=1
②F=A+B=A ・1・B ・1
四工大数电实验报告1TTL 集成逻辑门参数测试
B=1
B=0
③ F=A©B= A AB B AB
四工大数电实验报告1TTL集成逻辑门参数测试
U2
74LS00D
B=1
B=0
F
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