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- 2023-07-24 发布于四川
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本实用新型公开了一种具有限位功能的芯片测试装置，涉及芯片测试技术领域，包括盒体，所述盒体的一侧活动安置有传送带，且传送带的相对面连接有第一连接杆，所述第一连接杆的外壁一侧安装有第二连接杆，且第二连接杆的相对面连接有承载板，所述承载板的顶端内侧安装有活动架，且活动架通过螺栓与承载板相连接，所述活动架的外侧连接有活动条，且活动条的内侧开设有插孔，所述第一连接杆的顶端镶嵌有磁柱，所述盒体的顶端安装有箱体，且箱体的内侧顶端连接有连接架。本实用新型中，人工推动活动条，使得与其相连接的活动架呈不同角度，再通
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 214310637 U
(45)授权公告日 2021.09.28
(21)申请号 202120610247.0
(22)申请日 2021.03.25
(73)专利权人 西安顺晖电子科技有限公司
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