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- 2023-07-26 发布于四川
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本实用新型涉及一种基于逆向哈特曼光路的晶圆表面面形测量装置。测量装置包括外包机箱、送料平台、空间光调制器、显微透镜、彩色相机和计算机。其中空间光调制器和彩色相机固定于同一高度处,并分别位于被测晶圆的两侧,显微透镜位于空间光调制器和晶圆光路之间。送料平台由伺服电机控制的丝杆导轨运动平台组成,用于被测晶圆的运送。外包机箱由全黑不透明的不锈钢板组成,可以起到很好的遮光作用。测量方法为:计算机控制空间光调制器输出图像,经显微透镜会聚后照射在被测晶圆上,由彩色相机采集图像并在计算机中进行处理,可以得到晶圆
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209894137 U
(45)授权公告日
2020.01.03
(21)申请号 20192
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