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本发明公开了一种精密影像测量仪的校准方法，包括以下步骤：1)通过投影装置向标定板上投射一个投影图像；2)通过影像测量仪测量投影图像的尺寸，并将测量的数据传输到计算机上进行处理；3)计算机对接收到的投影图像进行处理，提取需要检测的测量尺寸；4)重复步骤1)‑3)，并且每次投影影像的距离成倍增加；将多次取得的测量尺寸与投影图像的实际尺寸进行比较，然后取得平均值，通过平均值校正影像测量仪；本发明通过在同一方向对不同位置处的投影图像进行测量，然后取其平均值，即可对测量的方向进行校准，然后通过同样的方式对
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116481432 A
(43)申请公布日 2023.07.25
(21)申请号 202310522673.2
(22)申请日 2023.05.10
(71)申请人 远届测控设备 （青岛）有限公司
地
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