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本实用新型提出了一种M.2PCIE信号测试治具，测试治具为NVME固态硬盘结构。测试治具板卡的前端为M.2PCIE金手指，且PCIE金手指上设置有安装孔，测试治具板卡的尾端设置有卡扣凹槽。其中安装孔的位置可以在金手指中线的上方或者下方，在M.2连接器与PCIE金手指上的安装孔连接测试时，安装孔的位置使Clock信号和TX信号位于测试治具板卡的表层，增加了测试的便利性。测试治具板卡的底层包括线缆固定卡扣；固定卡扣为分片式卡扣，方便测试线缆的固定与引出，同时避免安装过程中测试点的松动造成的不稳定
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 209927982 U
(45)授权公告日
2020.01.10
(21)申请号 20192
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