JB 5533-1991静电复印硒鼓膜层附着力试验方法.pdf

中华人民共和国机械行业标准JB/T 5533—91静电复印硒鼓膜层附着力试验方法1991-07-16发布1992-07-01实施中华人民共和国机械电子工业部发布 中华人民共和国机械行业标准JB/T 5533--91静电复印硒鼓膜层附着力试验方法主题内容与适用范围本标准规定了静电复印硒鼓膜附着力的试验方法，其中包括：原理、设备、试样、试验步骤和试验报告。本标准适用于Se，SeTe及Ae2Se:等类型硒鼓。2原理硒鼓底基材料与膜层材料的热膨胀系数不同，在一定的高低温冷热循环冲击下产生的应力变化，使膜层出现隆起，龟裂、脱落由此判定硒鼓膜层的附着力是否合格。3试验设备3.1 试验箱3.1.1应提供两个试验箱，一个作为冷箱，一个作为热箱，试验箱的放置应便于硒鼓试样在两箱之间迅速转换。3.1.2试验箱应该能够在放置硒鼓试样的区域内保持试验所耍求的温度。3.1.3试验箱内的空气应流通，靠近硒鼓试样处测量其速度应不小于2m/s。8.1.4试验箱的容积应保证在硒鼓试样放入后不超过5min 就能使温度保持在规定范围内。3.2支撑件硒鼓试样的支撑件的导热率应该是低的，以使实际上硒鼓试样近似于绝热。3.35~10倍放大镜4 试样试样的膜层应无任何脱落、龟裂、隆起，划伤等会影响试验结果的缺陷。6 试验步骤5.1按硒鼓的类型，将热箱和冷箱的温度调整控制在表1规定的值。5.2将不带任何包装的硒鼓试样在试验室环境温度下，直接放入热箱内。5.3硒鼓试样在热箱内放置1h。5.4将硒鼓试样从热箱中取出，迅速放入冷箱内，从热箱转换到冷箱的时间应不超过30s。5.5硒鼓试样在冷箱内放置1H。5.6将硒鼓试样从冷箱中取出，在试验室的环境温度下放置30min，在此时间内用放大镜或目视检查硒鼓膜层表面有无隆起、龟裂或脱落。如出现上述任一现象，则中止试验，判定膜层附着力不合格。5.75.2～5.6构成一个循环（见图1）。按表1规定的次数进行循环。机械电子工业部1991-07-16批准1992-07-01实施 JB/T 5533--91表1试热箱温度冷箱温度试验室循环验TaTb温度次数鼓类件℃°℃℃次型Se, Se- Te25±1-20±115~351As2Se31年02~ 25±115~3510花环温度图1图中：A—循环起点Ta----热箱温度值T冷箱温度值t+*一试样在热箱及冷箱内的放置时间t2—-试样从热箱到冷粘的转换时间一试样在实验室内的放置时间试验报告报告应包括下列内容：a.试验依据（本标准号）产品名称、型号，c.生产厂家或委托试验单位，d.生产日期;e.样品编号，f.试验条件及日期，9.试验结果及判定，h.试验人员签名。附加说明：本标准由机械电子工业部提出。本标准由天津复印技术研究所归口并负贵解释。本标准主要起草人唐云山，赵晓东、蘭亿铭。2 553391JB/T中华人民共和国机械行业标准静电复印硒鼓膜层附着力试验方法JB/T 5533--91*机裁电子工业部标准化研究所湛版（北京首体南路)机械工业标准印刷广印刷（湖南长沙）机械工业标准发行站发行（湖南长沙市梁城坡）*开本880×12301/16印张3/8字数4 1C01992年5月第-一版1992年5月第-次印刷