EJT 1166-2004特种镅-241α箔源.pdf

ICS 27. 120. 30EJF 51备索号：13661-2004中华人民共和国核行业标准EJ/T 1166--2004特种-241α 箔源Americium-241 alpha foil sources for specific application2004—02-16 发布2004- 06—01实施国防科学技术工业委员会发布 EJ/T 1166--2004言本标准的附录A为资料性附录。本标准由中国核工业集团公司提出。本标准由核工业标准化研究所归口。本标准起草单位：中国原子能科学研究院。本标准主要起草人：姚纯炳、范国民。 EJ/T 1166—2004特种-241α 箔源范围本标准规定了特种-241α箔源（简称箔源）的产品代号，技术要求，检验方法以及产品的检验、标志、包装、运输和贮存。本标准适用于有毒有害气体检测设备用α箔源。2规范性引用文件下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包含勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。GB/T2828逐批检查计数抽样程序及抽样表（适用于连续批的检查）GB 4075密封放射源分级GB 4076密封放射源的般规定GB 11806放射性物质安全运输规定GB 15849一1995密封放射源的泄漏检验方法EJ/T535离子感烟火灾探测器用-241α源环境实验3术语和定义下列术语和定义适用于本标准。3. 1箔源 foil sources采用粉末冶金和辊轧工艺制备的无包壳箔状密封放射源。4产品代号箔源的产品代号，由放射性同位素产品大类代号、核素代号、质量数代码、类别代码、几何尺寸代码和规格（批量产品电离电流标称值）代码组成，见表1。当表1规定的产品代号不能满足实际应用时，可按其编制规则增加产品代号。表1 产品代号几何尺寸代码大类核素质量数类别规格几何尺寸·产品代号代码代号代号代码代码代码RSAM241Φ14.8140RSAM2410140RSAM·2410Φ14.8137-RSAM2410137RSAM241012 × 10°229RSAM2410229RSAM241.012 × 10*224RSAM2410224，厚度符合5.6.2规定。含非活性区部分的尺寸。1 EJ/T 1166-—20045技术要求5.1-241原料放射性核纯度能量超过100keV的Y杂质活度不应大于总活度的0.1%。5.2恒定湿热试验在温度（40土1）℃，相对湿度90%～95%的条件下放置96h，试验后的样品技术性能应符合5.3、5.4、5.5.4及5.6.1之规定。5.3·批量产品的a能谱5.3.1α能谱峰能量标称值及离散度为（4.25±0.25）MeV。5.3.2α 能谱半高宽度（FWHM）不大于0.9MeV。5.4批量产品的电离电流值批量产品的电离电流标称值及离散度如下：a）RSAM2410140 产品为：（40±2.5)nA。b）RSAM2410137产品为：（37.5±2.5）nA。c）RSAM2410229产品为：（29±3.0）nA。d)RSAM2410224产品为：（24±3.0） nA。5.5安全性能5.5.1安全性能分级等级不低于GB/C32222。5.5.2α能谱峰能量限值不大于4.70MeV。5.5.3电离电流值限值不大于44.0nA。5.5.4放射性物质表面污染及泄漏水平小于200Bq。5.6表观质量及外形尺寸5.6.1表观质量表面应平整、光滑、无裂纹、无色变、无针孔及无划伤等。5.6.2外形尺寸厚度为（0.20士0.05）mm，其它外形尺寸应符合用户要求。5.7#推荐使用期推荐使用期为五年。6.检验方法6.1-241原料放射性核纯度的测量方法使用经过能量刻度的 Si（Li）、高纯锗半导体X、Y谱仪或能量分辨率为10%的 NaI（T1）X、Y谱仪测定镭-241原料放射性核纯度。产品说明书上应注明所采用的探测器。6.2恒定湿热试验方法按 EJ/T 535规定的试验方法进行恒定湿热试验。6.3α能谱测量方法采用α谱仪测量，能量值的扩展不确定度应不大于 5%（k=3)。6.4电离电流测量方法用参考源标定的放射源电离电流测量装置（参见附录A），进行相对测量。6.5安全性能分级等级试验方法依据GB 4075规定的试验方法进行试验并按GB15849--1995规定进行安全性能分级等级判定。6.6放射性物质表面污染及泄漏水平的检验方法6.6.1表面污染水平检验方法按GB 15849一1995中5.3规定的检验方法之一进行。2 EJ/T 1166--20046.6.2泄漏水平检验方法按GB 15849一1995规定的一种检验方法进行6