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一种偏光片膜厚度均匀性检测装置.pdfVIP

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  • 2023-07-31 发布于四川
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一种偏光片膜厚度均匀性检测装置.pdf

    一种偏光片膜厚度均匀性检测装置，包括暗室、检测台、可控光源阵列、相机和滤光片阵列，检测台和相机设置在暗室内，检测台的台面上设置可控光源阵列，可控光源阵列与相机之间用于设置待测膜，所述滤光片阵列用于提供不同的滤光片与相机镜头重合，相机用于采集不同滤光片下待测膜的图像。本实用新型使利用透光膜在不同滤光下散射效果的均匀性，整体检测膜的均匀性。本实用新型有利于及时发现膜生产过程中均匀效果的异常，检测拉伸机的拉伸效果，可以对所有产品进行全检，从而全面提升生产质量，本实用新型无需光谱仪等检测设备，设备成本低

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 209945263 U (45)授权公告日 2020.01.14 (21)申请号 20192

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