DLT 1000.2-2006标称电压高于1000V架空线路绝缘子使用导则 第2部分：直流系统用瓷或玻璃绝缘子.pdf

ICS 27.100F23DL备案号：17686-2006中华人民共和国电力行业标准DL/T 1000.2 - 2006标称电压高于1000V架空线路绝缘子使用导则第2部分：直流系统用瓷或玻璃绝缘子Application guide of insulators for overhead lines with a nominal voltage above1000vpart2: The ceramic or glass insulatorsfor d.c. systems2006-05-06发布2006-10-01实施中华人民共和国国家发展和改革委员会发布 DL / T 1000.2 -- 2006目次前言范围2.规范性引用文件3术语4 般技术要求选择原则56检验规则7验收·8包装和运输9安装10　运行维护11运行性能检验附录A（规范性附录）绝缘子机械振动试验方法附录B（规范性附录）打击负荷试验附录C（规范性附录）防污设计(污耐压法) DL / T 1000.2 - 200611.2.4检验评定准则温度循环试验中，若有绝缘子发生损坏，需补齐同等数量的绝缘子进行重复试验。温度循环试验后进行的机电（械）破坏负荷试验中，每片绝缘子的机电（械）破坏负荷值应不小于0.85SML。 DL / T 1000.2 --- 2006附录A（规范性附录）绝缘子机械振动试验方法A.1目的本试验是用来检验绝缘子在典型振动条件下的抗疲劳性能。A.2试验布置尽可能在模拟运行状态的条件下进行机械振动试验。绝缘子串对地和模拟杆塔的间隙距离可与运行状态不同，但试验用导体应与实际状态相同。导线跨距应大于30m，其中后档距不少于10m，试验布置图见图A.1、图A.2。1一加载端支座；2—测力计；3—一中间支座；4一起振器；5—一静止端支座；6一门型架；7—悬垂绝缘子串或V型串：8一后档距；9一金具：10一联板图 A.1悬垂串振动试验布置图1一加载端支座；2一测力计：3--中间支座；4一起振器：5一静止端支座；6一金具；7一耐张绝缘子串；8一联板图 A.2耐张串振动试验布置图A.3 试验程序在整个试验过程中，试验系统应保证每根导线处于持续的张紧状态，且沿其轴线方向施加年平均运行张力。起振面应与导线牢固在一起且与导线垂直。绝缘子串联板与起振器之间至少产生6个波节。每根导线应以绝缘子串的共振频率通过起振器在垂直方向振动，振动频率f为20Hz～40Hz，振动次数应不小于3000万次。 DL / T 1000.2 — 2006振动试验后60%的绝缘子应进行机械破坏负荷试验，另40%的绝缘子进行冲击过电压击穿耐受试验。A.4判定准则在整个试验期间，铁帽和钢脚不应断裂、弯曲、松动；瓷件不应出现破损、裂纹；铁帽和绝缘件及钢脚三者应在同一轴线上；钢脚处胶装水泥不应出现裂纹或歪斜、水泥松动等异常现象。振动试验后，绝缘子冲击过电压击穿耐受试验和机械破坏负荷的判定准则由供需双方协商。10 DL / T 1000.2 — 2006附录B（规范性附录）打击负荷试验B.1试品布置试品应按正常使用情况安装于打击试验机上，如图B.1所示：10001一支架：2一试品：3一钢质摆锤；4－摆轴（钢管）：5一自行车前轴：6一厚黄铜板刻度盘（可随摆上下移动）图 B.1打击试验机示意图B.2试验程序试验时，沿试品轴向预先施加约8.9kN的拉伸负荷，然后将摆轴升高至规定的打击负荷值，并调节好摆轴和摆锤位置，即当释放摆轴使之自由落下，并打到绝缘件伞裙滴水缘上。当摆锤触及试品时，摆锤应垂直于试品轴线。B.3判定准则试品经打击试验后不应损坏。打击试验后的瓷绝缘子应经受1min工频火花电压试验不击穿。11 DL / T 1000.2 - 2006附录C（规范性附录）防污设计（污耐压法）C.1附盐密度a）以拟建直流线路路径附近交、直流输变电设备的污秽状况为基础，参照我国内陆地区交、直流自然积污试验结果即交流等值附盐密度（ESDD）乘以直交流积污比，预测该区域直流线路参照盘型悬式绝缘子的等值附盐密度（ESDD）和不溶物密度（NSDD）；b）根据形状积污系数，推算其他型式绝缘子的ESDD；c）确定等价于ESDD值的人工污移试验时使用的附盐密度值，即试验盐密SDD。C.2单个最大耐受电压 Umax的确定a）按正EC61245：1993中5.1.3规定，在给定基准污移度SPS下，根据50%人工污移耐受电压的测定程序求出绝缘子串U50%，并折算为单个绝缘子的Us0%值。b）单串闪络概率p由线路设计闪络概率P确定：P=1- (1-p)(C.1)式中：n为并联绝缘子串数。c）单个绝缘子最大耐受电压Umax按下式确定：Umax =kzk3ksks (1- k10) Us0%(C.2)式中:标准偏差，可取7%或由试验数据计算：k