YD_T 2338-2011通信电缆 无线通信用50Ω泡沫聚乙烯绝缘、铜包铝管内导体、皱纹铜管外导体射频同轴电缆.pdf

ICS 33.120.10M 42YD中华人民共和国通信行业标准YD/T 2338-2011通信电缆无线通信用502泡沫聚乙烯绝缘、铜包铝管内导体、皱纹铜管外导体射频同轴电缆Telecommunication cable--foamed polyethylene dielectriccopper-clad aluminum tube inner conductor, corrugated coppertube outer conductor, 50 ohm radio frequency coaxial cable,for wireless communications2011-12-20 发布2011-12-20 实施中华人民共和国工业和信息化部发布 YD/T 2338-2011目次前 言1 范围2　规范性引用文件3产品分类3.1电缆型号·3.2产品标记…4要求4.1电缆结构4.2内导体·4.3绝缘层4.4外导体…·4.5护套···4.6电缆性能要求·4.7电缆制造长度·５试验方法5.1内导体试验方法5.2绝缘的试验方法···5.3外导体的试验方法……·5.4电缆护套的试验方法·5.5电缆机械物理性能和环境性能试验方法5.6电气性能试验·6检验规则126.1出厂要求·:126.2产品检验6.3出厂检验·126.4型式检验137标志、包装、运输和储存·:147.1标志7.2包装7.3运输和储存。 YD/T 2338-20112(D1- D2)2×100%椭圆度=(3)(D1 + D2)式中:D1一一在铜包铝管横截面上测得的最大外径值；D2-一在与 D1 同一横截面上测得的最小的外径值。以分度为0.01mm 的卡尺在内导体圆周上的不同位置反复测量相互垂直的两个外径，当两个外径值的差值最大时，记录这两个外径值，并按式（1）计算椭圆度。5.1.5铜层厚度采用“断面抛光测量法”，应将其横截面用金相砂纸研磨抛光，达到镜面光洁，使用大于20倍的读数显微镜测量。在沿铜包铝管轴向，相互垂直的四个位置测定铜层厚度，其中应包含铜层最薄部位。5.1.6铜层体积比采用测出的铜层厚度、外径和内径，并按式（1）计算铜层体积比。5.1.7铜铝结合性试验铜包铝管的铜铝结合性试验应按GB/T4909.5的规定进行，或采用任何合适的方法进行反复弯曲直至断裂。也可用观察拉伸试样或扭转试样的断口方法，或将试样弯曲 90°后观察内侧铜层是否皱折来评定。5.1.8弯曲性能试验在弯曲半径为铜包铝管标称外径15倍的条件下，弯曲180°不应产生皱折和裂纹。5.1.9铜层密实性试验铜包铝管的铜层密实性试验的试验装置示意图如图4所示，试验装置由两个夹持装置组成，个固定，一个旋转，它们的间距可调。L试样固定试样夹头旋转试样夹头图4铜层密实性试验装置图为使试样保持直线状态，需要在试样装置的夹具上施加张力F，F应为（50土5）N，夹持长度L为试样（铜包铝管）标称直径的100倍。试验时，以15r/min 的速度将可转动夹头按顺时针方向旋转3圈，返回起始位置。5.2绝缘的试验方法5.2.1绝缘同心度绝缘的同心度应按GB/T2951.11-2008的规定进行测量，并按式（2）进行计算。8 YD/T 2338-20115.2.2绝缘附着力绝缘附着力应按GB/T17737.1-2000中10.1规定的方法进行试验。5.2.3绝缘热收缩绝缘热收缩试验应按GB/T2951.13-2008中的规定进行。截取200mm长的绝缘导体，在中间部分标出150mm长的绝缘，将标记线外绝缘除去，将制取的试样放在循环通风烤箱里，在（115土2）℃下保持4h，然后冷却至室温，切割绝缘试样时引起的收缩量应计入绝缘的总收缩量中。5.2.4绝缘的热氧化稳定性绝缘的热氧化稳定性应按JB/T10696.8-2007的规定进行，并符合以下要求：a）用于老化前、后氧化诱导期试验的试样应在同一根电缆中截取；b）老化前试样数量共为3个（去除内导体粘结层和外皮层），将这3个试样分别放入除油脂的铝杯中进行氧化诱导期试验；取（去除内导体粘结层和外皮层），并将该试样放入除油脂的铝杯中进行氧化诱导期试验；d）老化前后氧化诱导期试验均应在（180±2）℃下进行。5.3外导体的试验方法5.3.1外导体的结构尺寸从电缆上截取约15倍标称轧纹节距长的一段电缆并将其校直，以适当的方法去除电缆护套并避免损伤外导体。制成试样后，结构尺寸的测量按以下规定进行：a）波峰外径：以分度0.01mm的游标卡尺，在外导体皱纹的波峰上沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量。测量时应用游标卡尺对外导体皱纹波峰外径的最大点进行测量；c）波谷外径：以分度0.01mm 的游标卡尺在外导体皱纹的波谷上，在沿圆周大约均匀分布的4个位置进行测量。测量时应用游标卡尺对外导体皱纹波谷外