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中华人民共和国电子工业行业标准电子元器件详细规范PIN62A、PIN62B,PIN62C 和 PIN62D 型SJ/T 1006391硅PIN开关二极管Detail specification for electronic componentsSilicon switching PIN diodesfor types PIN62A,PIN62B,PIN62C and PIN62D本标准适用于PIN62型硅PIN开关二极管,它是按照GB12562《PIN二极管空白详细规范》标准制订的,符合GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》和GB12560《半导体器件分立器件分规范》的1类要求。中华人民共和国机械电子工业部1991-04-08批准1991-07-01实施
SJ/T 10063-91中华人民共和国机械电子工业部评定器件质量的根据:SJ/T 10063-91GB4589.1《半导体器件分立器件和集成电路总规范》GB12560《半导体器件分立器件分规范》PIN62A、PIN62B、PIN62C和PIN62D型硅PIN开关二极管详细规范订货资料:见本规范第7章2简略说明1机械说明PIN二极管外形标准:符合SJ2005--82《微波二极管外半导体材料:硅形尺寸》W-05型封装:金属一陶瓷(空腔)外形图应用:用于传输线开关.小功率矩阵开关、移相器,限幅器和可变衰减器等A11.2±0.50--2025.33z00333质量评定类别+、印章部位立1类参考数据:Ctol≤0. 7pFV()≥110V(PIN62B.PIN62D)≥60V(PIN62A,PIN62C)r≤10(PIN62C,PIN62D)≤1.50(PIN62A,PIN62B)尺寸单位:mm-2
SJ/T 10063--914极限值(绝对最大额定值)除非另有规定,这些极限值在整个工作温度范围内适用。数值条文号参数名称符号单位最小值最大值4. 1工作环境温度rTamb551504.2贮存温度cTstg551754.3击穿电压V(BR)vPIN62A.PIN62C60VPIN62B.PIN62D1104. 5耗散功率4.5.2℃最高有效(等效的)结温T(vis175p耗散功率mW5005电特性(对检验要求见本规范的第8章)特性和条件数值条文号符号单位(见总规范的第4章)试验组别Tamb= 25 ℃最小值最大值5. 1反向电流Ix110A2bμAVx=50V(PIN62A.PIN62C)Vx=100V(PIN62B、PIN62D)5. 2反向电流100C2bTR2μATamb=100℃CVx 50V(PIN62A.PIN62C)V=100V(PIN62B、PIN62D)5.3正向电压Vr1.0VA2bIp=10mA5.4总电容ClotA2bVx=0V f=1MHz0.7pF5.5反向恢复时间30A3nstrrIs=20mA Ik=200mA5. 7A2b正向微分电阻rIr=100mA f-10kHzPIN62APIN62B1. 5a0PIN 62C PIN 62D1.05.8串联电感Is1. 0nH5. 10封装电容Cp0. 27pF5. 11热阻0. 3C/mWR(th)j-a注:1)典型值,不作检验用。6 标志6.1器件上的标志6.1.1完整的器件型号6.1.2质量评定类别标记(应放在型号后面,如BT62AI)-3-
SJ/T1.3检验批的识别代号,以周作为检验批代号(如8845的意思是1988年第45周)6.2包装箱上的标志6.2.1重复器件上的标志6.2.2标上“怕湿”等字样6.2.3制造厂商标7订货资料订货单上应有下列资料:7.1准确的型号7.2订货数量7.3本规范编号7.4对器件的其它要求8试验条件和检验要求8.1在本节中,除非另有规定,引用的条文号对应于GB4589.1的条文号;测试方法引自GB6570《微波二极管测试方法》。8.2器件构成A组、B组检验批的时间可以为一个月。试验条件和检验要求见下表。A组—逐批全部试验都是非破坏性的(3.6.6)检验要求条件引用标准检验或试验Tamb= 25 ℃数值单位LTPD(见总规范的第4章)最小值最大值A1分组5外部检验4.2.1.1A2a分组0.7不工作器件Vk= 50V(PIN 62A,PIN 62C)极性颠倒;Ix1GB 6570,6.2VR=100V(PIN 62B)1R≥1000μAPIN 62D)或VrIr=10mAVGB 6570,6.3.1Vr≥10A2b分组3In1GB 6570,6.210HAV- 50V(PIN 62A,PIN 62C)Vr =100V(PIN 62BPIN 62D)VisvGB 6570,6.3.1Ir=10mA1. 0CtotVu=0V f=1MHz0.
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