一种基于光强修正的高精度结构光时域相移测量方法.pdfVIP

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2023-08-09 发布于四川
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一种基于光强修正的高精度结构光时域相移测量方法.pdf

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本发明公开了一种基于光强修正的高精度结构光时域相移测量方法。本发明采用数字微镜阵列产生正弦条纹图像，然后投影至待测结构表面。测量过程中，利用位移台带动物体作轴向扫描，对于每一个扫描位置，投影一帧具有固定相位差的相移图像。解算时，首先获得每个像素点随扫描位置变化的光强曲线。然后，利用频域算法得到图像调制度值随扫描位置变化的调制度曲线。进一步，通过将调制度曲线与光强曲线相乘，以此对光强曲线中的背景光强进行修正。最后，通过提取矫正后光强曲线包络峰值所在位置进行三维重构。该方法与现有时域相移结构光测量方

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116558444 A (43)申请公布日 2023.08.08 (21)申请号 202310770488.5 (22)申请日 2023.06.27 (71)申请人东莞理工学院地址 523000