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一种芯片推拉力测试仪.pdfVIP

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  • 2023-08-10 发布于四川
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一种芯片推拉力测试仪.pdf

    本实用新型公开了一种芯片推拉力测试仪，涉及芯片生产测试技术领域，解决了现有的芯片推拉力测试仪存在的进刀深度不易精准控制，从而导致测试结果不准确的问题，本实用新型包括底面为水平面的移动刀座，移动刀座下方设置有固定平台，移动刀座下段内部开设有固定腔，固定腔中设置有可水平移动的驱动块，固定腔底部中心开设有竖直的连通移动刀座底面外部的推刀槽，推刀槽中设置有推刀，推刀顶部与驱动块侧面均为斜面并相互配合，驱动块的斜面上开设有燕尾槽，推刀的斜面上设置有与燕尾槽配合的燕尾状的卡块。

    (19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210052716 U (45)授权公告日 2020.02.11 (21)申请号 20192

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