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本实用新型提供了一种谐振腔壁厚度测量装置,所述底座、上固定座、导向柱、上测量柱、下测量柱、数显卡尺,导向柱的两端分别与底座、上固定座固定连接,数显卡尺滑动设置于导向柱上,上测量柱固定安装于所述数显卡尺上,所述下测量柱固定安装于所述底座上且与上测量柱在Z轴方向上相对设置;上述谐振腔壁厚度测量装置,将需要测量的谐振腔壁的一面与下测量柱相抵接,下测量柱做为测量零点,移动上测量柱使之在导向柱向下测量柱方向滑动直至与谐振腔壁的另一面相抵接,数显卡尺根据上测量柱、下测量柱之间的位移,即可测出谐振腔壁厚度,整
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219511503 U
(45)授权公告日 2023.08.11
(21)申请号 202320771902.X
(22)申请日 2023.04.10
(73)专利权人 高科橡塑工业有限公司
地址 0
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