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本实用新型提出一种芯片测试装置，包括PCB基板，PCB基板上表面固定安装有通用卡座，通用卡座内部设置有芯片存放结构，通用卡座上方设置有设备测试头，设备测试头的两侧外壁设置有固定装置。本实用新型通过在一种芯片测试装置上设计由夹持板、滑轨、芯片置放板和芯片置放槽等构成的芯片存放结构，将待测试芯片放置在芯片置放槽中，设备测试头对准通用卡座向下挤压，夹持板通过连接环沿滑杆向下移动，带动芯片底部与PCB基板接触进行测试，而当芯片测试完成，且设备测试头与通用卡座分离后，夹持板在复位弹簧的弹力下，沿滑杆上移，
(19)国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 219512364 U
(45)授权公告日 2023.08.11
(21)申请号 202320716609.3
(22)申请日 2023.04.04
(73)专利权人 天津楚格科技有限公司
地址 3
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