边界扫描测试技术课件.pptVIP

边界扫描测试技术课件 * 第一页，共二十页，2022年，8月28日 边界扫描技术是一种应用于数字集成电路器件的测试性结构设计方法。所谓“边界”是指测试电路被设置在IC器件逻辑功能电路的四周，位于靠近器件输入、输出引脚的边界处。所谓“扫描”是指连接器件各输入、输出引脚的测试电路实际上是一组串行移位寄存器，这种串行移位寄存器被叫做“扫描路径”，沿着这条路径可输入由“0” 和“1”组成的各种编码，对电路进行“扫描”式检测，从输出结果判断其是否正确。 8.2 边界扫描技术的含义 * 第二页，共二十页，2022年，8月28日 在正常工作状态：输入和输出数据可以自由通过每个BSC，正常工作数据从NDI进，从NDO出。在测试状态，可以选择数据流动的通道：对于输入的IC管脚，可以选择从NDI或从TDI输入数据；对于输出的IC管脚，可以选择从BSC输出数据至NDO，也可以选择从BSC输出数据至TDO。 8.3 BST方法 边界扫描测试是通过在芯片的每个I/O引脚附加一个边界扫描单元(BSC—Boundray Scan Cell)以及一些附加的测试控制逻辑实现的。BSC主要是由一些寄存器组成的。每个BSC有两个数据通道：测试数据通道和正常数据通道。 边界扫描单元BSC的连接图 核心逻辑 * 第三页，共二十页，2022年，8月28日 边界扫描单元能够迫使逻辑追踪引脚信号，也能从引脚或器件核心逻辑信号中捕