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本申请实施例提供了芯片掉电日志处理方法及系统，系统包括上位机、主机端和芯片设备端，上位机与至少一个主机端连接，主机端与芯片设备端连接；方法包括上位机向多个主机端发送掉电测试命令，主机端向芯片设备端转发掉电测试命令；芯片设备端执行掉电测试命令并发生掉电操作以生成掉电日志；上位机对多个芯片设备端的掉电日志进行统筹分析，得到日志分析结果；通过上位机向多个主机端同时或分别发送掉电测试命令，而不需要对每个主机端均进行操作，以进行对应芯片设备端的掉电测试，进而提高了效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116578448 A
(43)申请公布日 2023.08.11
(21)申请号 202310474870.1
(22)申请日 2023.04.27
(71)申请人 珠海妙存科技有限公司
地址 51
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