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解读泰克新一代中端示波器高测试精度的五大优势 随着电力电子技术的发展，新低功耗器件的大量应用以及更加严格的标准约束，工程师对测试的精度越来越敏感，开始不满足现有示波器幅度测试的分辨率和精度了。影响示波器测试精度的因素都有哪些呢？我们如何提高测试精度呢？ 优势1：示波器模数转换器ADC 位数 为提高测试精度最理想的方式是提高示波器ADC位数，但是因为ADC其采样率和垂直分辨率的互相制约，目前市面上常见的示波器还是采用8bit ADC。换句角度来看，理论上用满其垂直的动态范围，分辨率就是垂直量程/ 256（28），如果采用12bit ADC 的示波器其分辨率为垂直量程/4096(212), 从这个角度来看，高比特的ADC可以在测试精度上带来非常大的提升。 现在工程师面临着更多小信号测试的挑战，如果您是做电源设计的工程师，纹波越来越小从以往的几十到一百多mV到目前只有十几mV甚至很多笔记本和手机上小到几个mV的微小纹波测试。无疑对测试纹波的工具示波器提出严峻的挑战，泰克全新一代示波器轻松解决微小信号测试问题。 还有一类更加挑战的测试要求，就是小信号是叠加在一个大的信号之上如何能准确测试呢？归根结底还是验证示波器的垂直分辨率的指标，为测试到信号的整体，可能选择一个较大的量程，但是又要看到其微小信号变化，请参考图1就非常清晰了解其测试效果的不同。 图1、不同位数ADC示波器测试小信号对比 泰克公司新4系、5系、6系MSO示波器采用硬件12bit ADC倾力打造无与伦比的垂直分辨率，帮助您捕获微小信号。 优势2：示波器前端放大器 示波器检测系统的噪声系数、可检测的最小信号都主要取决于前置放大器。 在泰克全新一代示波器MDO3提升了前端放大器的硬件性能，本底噪声降低了高达30%，从而提升了信号测试精度。具体的请参考图2： 图2、泰克新MDO3系示波器和传统示波器本底噪声对比 优势3：示波器采集模式 在测量低压信号时，有两种采集模式非常重要，具体视波形的可重复性而定，因为它们可以用来改善测量分辨率：平均模式和HiRes 模式。 主要介绍两种会提升测试精度的方法： ① 平均模式。 平均模式示波器采集系统中基本降噪信号处理技术之一。它依赖多次触发采集重复的信号。通过使用来自两次或两次以上采集的数据，这种模式逐点平均采集中对应的数据点，形成输出波形。平均模式改善了信噪比，降低了与触发无关的噪声，提高了垂直分辨率，可以更简便地观察重复信号。 图3、平均模式在多次采集中计算每个记录点的平均值 可以修改传统平均算法，每次在采集另一个波形时立即显示结果，解决显示平均的波形时延误时间的问题。但是，数据存储问题依旧没有得到解决。稳定的平均算法为： an = (1 / n) * (x0 + x1 + x2 + … + xn-1)其中：an 是当前平均采集中的点xn 是新采集n 中的点n 表示采集次数 注意，为了得到具体N 次采集的加总平均值，只需把示波器置入Single Sequence ( 单次序列) 模式。在这种模式下，在n 到达N 时，采集会停止，平均的波形中包含着具体N 个采集的波形。 泰克示波器采用指数平均算法，可以在每次采集后在显示画面上立即更新结果，明显降低了要求的存储容量。指数平均流程采用下面的公式，从新采集xn 和之前平均波形an-1 中得到新的平均的波形an： an = an-1 + (1/p)*(xn - an-1) = an-1 * ((p - 1) / p) + (xn / p)其中：n 表示采集次数N 表示请求的平均总数an 是平均的采集中新的点an-1 是过去平均的采集中的点xn 是新采集中的点p 是平均因数 如果(nn)，那么p p=N得到的平均后的波形相同，与使用哪种平均算法无关。但要注意，不管是采集的波形还是平均的波形，指数平均算法的效率都要高得多。/p 这两种算法都可以立即显示波形中一致的趋势效应。您可以在低速信号中看到这一点。如果信号是稳定的，那么您会看到前N 次采集中噪声连续下降。在N 次采集后，信号仍将变化，但整体降噪或垂直分辨率不再有改观。平均功能提高了信号的垂直分辨率，对于信号周期稳定的波形非常有效。对于周期及幅值都变化的波形如何提高测试精度呢？ ② 高分辨率模式。 图4、HiRes 采集模式计算每个采集间隔中所有样点的平均值 HiRes 模式是泰克已获专利的采集方式，它计算并显示每个采样间隔中所有顺序样点值的平均值。这种模式提供了一种方法，用过采样获得与波形有关的进一步信息。在HiRes 模式下，通过获得进一步水平采样信息，可以提供更高的垂直分辨率，降低带宽和噪声。HiRes 处理在定制硬件中完成，以最大限度地提高速度。HiRes 模式较平均模式的一个关键优势，是即使单次采集也可以使用H