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无源超高频射频识别系统性能测试方法研究 1. rfid测试 基于uhf频带的rfid通信参数的国际或区域规范标准，基本规定了id系统产品中包含算法、中断和通信参数的读者和标记之间的信息。在通信系统的通信过程中，通信参数和环境因素变化对系统的性能有很大影响。rfid系统的性能测试技术包括标签测试、客户端测试和系统测试。在办公室环境下，采用发射和接收天线分离方法，向全向天线发送信息，输出端的cw信号，并通过开关将cw负载设置为一个通道，完成信号的反散射。调整后，用一个小衰减模型模型模型模型模型，模拟和测试了2.45gf标准偏差对应于epcc1或epcc1的两个极端。研究发现，在相同的硬件条件下，附近物体的累积减少是减少接收距离的关键。她提供了接近金属和塑料水的第三代识别指数。在测试接近sdm时，我们观察到了基于同样硬件条件下附近物体的场衰减，这是减少接收距离的关键。它显示了rfid系统正常阅读的临界值，并测试了阅读距离和频率相关参数。这些检测点讨论了环境因素的影响，但它们是基于每种桑叶频率的采样频率。pave等人讨论了标记的灵敏度、放大、极化模式、抗逆容器等参数、路径损失、噪声损失、植动器性能、读者精神等。为了满足ni公司的软件安装要求，它们对应于18000-6c（以下简称-6c）标准中标记的三种识别行为的局部性能参数。在固定其他性能参数的前提下，检测0.8-1ghz范围内的rfid