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- 2023-08-15 发布于四川
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本实用新型公开了一种激光模拟单粒子辐照损伤评估的测试系统,包括电源单元和测试板卡,其中电源单元用于向待测芯片提供电源;测试板卡包括比较器、计数器、提示单元、以及用于分别测试所述待测芯片的单粒子激光测试区和参照测试区,单粒子激光测试区和参照测试区分别测试加载激励信号的待测芯片并输出第一测试信号和第二测试信号;经比较器比对并输出比对结果至计数器;计数器用于接收并传输比对结果至提示单元;提示单元用于根据所述比对结果呈现提示信息。本实用新型提供的测试系统通过激光模拟单粒子辐照损伤测试待测芯片,再通过同时
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210109257 U
(45)授权公告日
2020.02.21
(21)申请号 20192
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