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本发明公开了一种基于特征感知的元器件表面缺陷检测方法，包括：1)采集待检测的元器件的RGB图像；2)将RGB图像通过缺陷空间映射网络，得到缺陷空间映射图；3)得到RGB图像的关键点坐标；将缺陷空间映射图分别输入区域建议网络和主干网络，获得ROI区域和感兴趣区域ROIs；将缺陷空间映射图进行超像素快速分割，得到多背景区域；4)通过ROIs找到其相交背景区域，进行区域特征融合；5)将ROIs与关键点坐标进行比对，得到双近邻ROI区域特征，比对双近邻ROI区域特征，将比对结果向量作为ROIs的特征向量
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116596838 A
(43)申请公布日 2023.08.15
(21)申请号 202310235760.X G06V 10/26 (2022.01)
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