一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统.pdfVIP

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2023-08-16 发布于四川
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一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统.pdf

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本发明涉及一种基于聚类的密码芯片侧信息泄露量化度量方法与系统，属于网络安全侧信道分析技术领域。所述方法将密码芯片采集到的侧信道波形分割为带操作编号的波形段，并将其降维，在低维空间上进行聚类，得到两个集合，记为集合A和集合B；根据已知的密钥推出每个波形段的正确操作，并标记到各波形段对应的点，从而得到两个集合，记为集合C和集合D；假设A与C对应、B与D对应，则将属于A但不属于C的点和属于B但不属于D的点加入集合E。设定一个阈值α，若E中点的个数小于α，则判定该方法实现不能抵抗简单能量/电磁分析；否则

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116599639 A (43)申请公布日 2023.08.15 (21)申请号 202211649317.9 G06F 18/23 (2023.01) (22)申请日 2022.12.