抗反射激光条纹中心线提取方法及设备、FPGA.pdfVIP

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2023-08-19 发布于四川
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抗反射激光条纹中心线提取方法及设备、FPGA.pdf

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本发明公开了一种抗反射激光条纹中心线提取方法及设备、FPGA，方法包括以下步骤：步骤1、获取激光条纹在图像中所占据区域的最大像素宽度；步骤2、基于最大像素宽度、激光条纹所占据区域中每个像素点的像素值，确定若干特征像素点；步骤3、基于特征像素点确定备选区域；步骤4、基于备选区域的能量强度对备选区域进行筛选，由激光条纹所占据区域的各个像素列保留的备选区域组成激光线区域；步骤5、对激光线区域定位得到激光条纹中心线；设备及FPGA均可实现抗反射激光条纹中心线提取方法。本发明根可提高激光条纹中心线识别准确

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116612189 A (43)申请公布日 2023.08.18 (21)申请号 202310522201.7 G06T 7/60 (2017.01) (22)申请日 2023.05.0