一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法.pdfVIP

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2023-08-19 发布于四川
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一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法.pdf

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一种针对微系统内FPGA及FLASH单元的测试方法，采用由PXI测试仪、多个通用IO测试板卡以及测试夹；PXI测试仪对测试向量进行编码，控制通用IO板卡提供测试通道，测试夹具保障测试对象的电气连接。测试系统具备针对测试对象的自动化测试能力，主要包含以SELECTMAP模式对FPGA编程的能力；以测试向量的形式提供FPGA、FLASH的测试激励的能力；采集并判断FPGA、FLASH测试响应的能力。此外，在FLASH测试过程中，可以使用专用测试适配板进行多路并行测试，有效减少FLASH测试时间，提高

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116609637 A (43)申请公布日 2023.08.18 (21)申请号 202310476572.6 (22)申请日 2023.04.27 (71)申请人北京时代民芯科技