GB/T 1553-2023硅和锗体内少数载流子寿命的测定　光电导衰减法.pdf

ICS77.040 CCSH21 中华人 民共和 国国家标准 / — GBT1553 2023 代替 / — GBT1553 2009 硅和锗体内少数载流子寿命的测定 光电导衰减法 Testmethodsforminoritcarrierlifetimeinbulksiliconand ermanium— y g Photoconductivitdeca method y y 2023-08-06发布 2024-03-01实施 国家市场监督管理总局 发 布 国家标准化管理委员会 / — GBT1553 2023 前 言 / — 《 : 》 本文件按照 标准化工作导则 第 部分 标准化文件的结构和起草规则 的规定 GBT1.1 2020 1 起草。 / — 《 》, / — 本文件代替 GBT1553 2009硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 与GBT1553 , , : 2009相比 除结构调整和编辑性改动外 主要技术变化如下 ) ( , ); 更改了范围 见第 章 年版的第 章 a 1 2009 1 ) 、 、 、 ( b 增加了术语和定义中直观寿命 少数载流子寿命 载流子复合寿命 注入水平的定义 见第 3 ), ( ), ( , 章 删除了表观寿命的定义 见 2009年版的3.1 更改了体寿命的定义 见 3.22009年版的 3.2); ) 、 、 、 、 、 c 更改了干扰因素中陷阱效应 光生伏特效应 温度 电导率调幅效应 扫出效应 光源的波长和 、 ( 、 、 、 ,