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本公开提供一种MCU参数测试系统，包括计算单元、控制单元和测试单元，所述计算单元与所述控制单元和所述测试单元均双向通信连接，所述控制单元与目标MCU双向通信连接，所述测试单元与所述目标MCU单向通信连接，其中：计算单元，用于向所述控制单元发出状态配置指令，并响应状态反馈信息向所述测试单元发出测试指令；所述控制单元，用于响应所述状态配置指令对所述目标MCU进行配置，并向所述计算单元发送状态反馈信息；所述测试单元，用于响应所述测试指令对所述目标MCU进行测量，获取参数数据，并将所述参数数据发送给所述
(19)中华人民共和国国家知识产权局
(12)实用新型专利
(10)授权公告号 CN 210181590 U
(45)授权公告日
2020.03.24
(21)申请号 20192
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