一种集成电路芯片测试座.pdfVIP

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  • 2023-08-23 发布于四川
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本实用新型公开了一种集成电路芯片测试座,包括底座,所述底座的顶部外壁开设有卡槽,且卡槽的底部内壁连接有测试弹簧,测试弹簧的顶端连接有探针,所述底座顶部外壁的一端转动连接有盖板,且盖板底部外壁的一端固定有磁块,所述底座顶部外壁与磁块对应的位置固定有铁片,铁片与磁块之间磁性吸附固定。本实用新型将芯片的引脚卡进卡槽中完成电性连接进行测试,同时将底座顶部的盖板合上,使盖板的磁块与底座上的铁片吸附固定,以利用盖板将芯片进行遮挡,从而避免底座顶部周围以及周围空气中的灰尘被吸附靠近芯片位置,从而保证芯片的干净

(19)中华人民共和国国家知识产权局 (12)实用新型专利 (10)授权公告号 CN 210199154 U (45)授权公告日 2020.03.27 (21)申请号 20192

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