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本发明涉及一种用于缺陷检测的数据处理方法、装置、设备及介质。本发明通过获取目标筛选参数，以及基于目标筛选参数来获取用于描述目标筛选参数对应的目标产品中所存在的缺陷的目标缺陷信息，从而基于目标缺陷信息，显示包括缺陷散点图的图像展示界面，进而响应于对图像展示界面中所显示的缺陷散点图的分析指令，基于目标生产设备的设备接触点以及为设备接触点设置的影响范围阈值，获取缺陷分析数据，缺陷分析数据用于指示每个设备接触点所造成的缺陷的统计信息，以实现产品缺陷和设备接触点之间的相关性的自动分析，提高缺陷分析效率。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116626062 A
(43)申请公布日 2023.08.22
(21)申请号 202310619757.8
(22)申请日 2023.05.29
(71)申请人 京东方科技集团股
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