ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法.pdfVIP

ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法.pdf

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本发明提供ADC测试系统的自动配置相干采样频率采样方法,包括如下步骤:S1:为模拟输入信号预制一原始输入频率,将原始输入频率输入至上位机进行测试得到FFT数据以及中心频率;S2:二分频处理后得到当前输入频率;S3:再次进行数据采样得到与之对应的FFT数据和中心频率,将当前输入频率所对应的FFT数据与原始输入频率所对应的FFT数据进行比对,判断是否需要继续分频,是则将原始输入频率进行四分频处理后得到当前输入频率,重复步骤S3四至六次;否则,输出当前输入频率已调制到相干采样准确频率。本发明通过四到六

(19)国家知识产权局 (12)发明专利申请 (10)申请公布号 CN 116633356 A (43)申请公布日 2023.08.22 (21)申请号 202310603306.5 (22)申请日 2023.05.26 (71)申请人 天津普智芯网络测控技术有限公司 地

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