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偏振光反射法测量薄膜厚度和折射率的研究的中期报告 中期报告 为了测量薄膜的厚度和折射率，我们使用了偏振光反射法。该方法利用了光线在从一种介质到另一种介质时发生反射时的偏振现象。我们将光线照射到薄膜表面，然后检测被反射的光线的偏振状态。通过分析偏振角度和反射光强，我们可以计算出薄膜的厚度和折射率。 我们进行了一系列的测量实验，包括使用不同波长的光线、在不同角度下测量反射光强度等。我们发现，当光线波长和薄膜厚度相差不大时，反射光的相位会发生很大变化，从而会影响测量结果。 为了解决这个问题，我们引入了相位角的概念，并使用了特定的斯托克斯方程来对其进行计算。通过这种方法，我们可以对极薄膜的厚度和折射率进行非常准确的测量。 我们还将这种方法应用于实际薄膜的测量中，并将测量结果与其他方法进行了比较。结果表明，该方法具有高精度和准确性，并可以用于薄膜的制备和测试等领域。 总的来说，本研究利用偏振光反射法对薄膜的厚度和折射率进行了研究，并提出了一种新的计算方法来解决光线波长和薄膜厚度相差不大时的相位变化问题。未来，我们将继续优化这种方法，并将其应用于更广泛的实际应用中。