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本申请涉及缺陷超声检测技术领域，提供了一种强噪背景下的缺陷超声成像方法及系统，包括对待测缺陷试样进行遍历扫描超声检测得到逐点的第一初始信号，对参考试样进行遍历扫描超声检测得到逐点的第二初始信号；对第一初始信号进行降噪预处理，得到第一降噪信号，对第二初始信号进行降噪预处理，得到第二降噪信号；对第一降噪信号和第二降噪信号进行信号匹配运算，再作背景差分相减计算，得到散射特征信号，对散射特征信号进行多向邻波差分相减计算得到缺陷特征信号，根据缺陷特征信号绘制图像；根据图像判断待测缺陷试样是否存在缺陷。本申
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号 CN 116642953 A
(43)申请公布日 2023.08.25
(21)申请号 202310765533.8 G01N 29/50 (2006.01)
(22)申请日 2023.06.
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